재료에 의해 산란된 X선의 회절 패턴을 분석하여 재료의 원자구조와 분자구조를 결정하는 기술이다.
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{meso-5,10,15,20-tetrakis{4-((ethoxycarbonyl)methoxy)phenyl}porphyrinato}nickel(II)